Servicio de preparación de muestras sólidas para Microscopía Óptica y Electrónica


Descripción

  • Preparación e inspección materialográfica para microscopía óptica y Microscopía Electrónica de Barrido (SEM).
  • Disecciones de precisión de materiales.
  • Operaciones asociadas a la preparación para Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM).
  • Observación de materiales con lupas binoculares y microscopios ópticos y adquisición de imágenes.
  • Medición de espesores con aparatos de precisión micrométrica.
  • Adelgazamiento mecánico plano de materiales mediante sistemas automáticos y semiautomáticos.
  • Corte de cilindros de 3 mm de diámetro con cortadora ultrasónica.
  • Adelgazamiento cóncavo-convexo del centro de cilindros de 3 mm diámetro.
  • Adelgazamiento final hasta electrón-transparencia de materiales.
  • Tratamiento de reducción de hidrocarburos en portamuestras de microscopía TEM (Plasma Cleaner).
  • Operaciones de recubrimiento mediante impregnación, evaporación y pulverización catódica.
  • Revelado o digitalización de micrografías TEM.

Líneas de Investigación

  • Caracterización estructural y química de materiales nanoestructurados mediante técnicas avanzadas de Microscopía Electrónica, en particular materiales para Catálisis Heterogénea.
  • Desarrollo de metodologías de caracterización de nanomateriales mediante Microscopía Electrónica.
  • Caracterización a escala atómica de nanopartículas funcionales.
  • Ingeniería de aleaciones semiconductoras Ga-AsSbN para aplicaciones en celdas solares y foto-detectores de alto rendimiento .
  • Caracterización y evaluación mediante técnicas de microscopía electrónica de nanohilos semiconductores para aplicaciones micro- y opto-electrónicas.
  • Sistemas múltiples de capas delgadas y nanoes-tructuras basados en la actividad de nitruros III-N binarios (InN, AlN, GaN), ternarios (InAlN, InGaN, AlGaN) y cuaternarios (InAlGaN) para optoelectrónica, electrónica de potencia y tecnología fotovoltaica.
  • Diamante sintético para ingeniería de materiales.
  • Polímeros reforzados para la aeronáutica.
  • Nanoanálisis y nanoprocesado de materiales: mediante nanoscopías electrónicas y haces de iones focalizados.

Infraestructuras

  • Cortadora de hilo de diamante (Well Precision Modelo 3242).
  • Adelgazador iónico (Fischione 1050).
  • Adelgazador iónico (Fischione 1010).
  • 2 Adelgazadores iónicos (PIPS 691 GATAN).
  • Lijadora automática de brazo articulado Rotopol 35 (Struers) Lijadora Labopol 25 (Struers).
  • Pulidora Labopol-5 (Struers).
  • Pulidora Tenupol-5 (Struers).
  • Pulidora Minimet 1000 (Buehler).
  • Plasma cleaner modelo 1020 (Fischione).
  • Estación de bombeo para evacuar portamuestras, modelo 9020 (Fischione).
  • 2 Discos Grinder (623-GATAN).
  • 2 Dimple Grinder (656-GATAN).
  • Cortadora Ultrasónica (601-GATAN).
  • Disc Punch (659-GATAN).
  • Microscopio Estereoscópico Triocular (SMZ745T-NIKON) Recubridor (208HR-Cressington).
  • Prensa Metalográfica (Citopress-1, Struers).
  • Microscopio Metalográfico Invertido (MA-100-Nikon).
  • Cámara Digital (Infinity1-3C-Lumenera).
  • Escaner DITABIS y juego de 40 placas electrónicas.
  • Cortadora de disco Accutom-5 (Struers).
  • Ultramicrotomo (Reihert-Jung).

Contacto

Facultad de Ciencias
11510, Campus de Puerto Real, Cádiz
fmiguel.morales@uca.es (Responsable división)
salvador.catalan@uca.es (Técnico división)
http://sccyt.uca.es